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        EMI超標(biāo):線路板設(shè)計(jì)中的普遍問題

        2025
        12/19
        本篇文章來自
        捷多邦

        EMI超標(biāo)是線路板設(shè)計(jì)中常見的現(xiàn)實(shí)挑戰(zhàn)。它在高速電路開發(fā)中頻繁出現(xiàn),直接影響產(chǎn)品認(rèn)證和市場準(zhǔn)入。

         

        設(shè)計(jì)中,高頻信號(hào)輻射超出標(biāo)準(zhǔn)限值。時(shí)鐘信號(hào)或數(shù)據(jù)線產(chǎn)生電磁干擾,影響周邊設(shè)備或自身功能。緊湊布局因走線密集,信號(hào)耦合風(fēng)險(xiǎn)上升,輻射強(qiáng)度更易突破安全閾值。問題在無線通信或高速接口設(shè)計(jì)中尤為突出。

         

        原因多源于設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)的疏漏。關(guān)鍵信號(hào)走線過長且未優(yōu)化路徑,缺乏有效屏蔽措施,接地系統(tǒng)設(shè)計(jì)不完善。設(shè)計(jì)階段對(duì)EMI控制策略考慮不足,導(dǎo)致輻射能量無法有效抑制。高頻信號(hào)邊緣速率過快,加劇了輻射強(qiáng)度。

         

        影響直接關(guān)聯(lián)產(chǎn)品上市進(jìn)程。認(rèn)證測試失敗延長開發(fā)周期,增加整改成本。嚴(yán)重時(shí),產(chǎn)品無法通過監(jiān)管要求,面臨市場準(zhǔn)入障礙。問題常在后期測試暴露,此時(shí)修改設(shè)計(jì)耗時(shí)費(fèi)力。

         

        EMI超標(biāo)普遍存在,不受電路復(fù)雜度限制。只要存在高頻信號(hào)源,輻射風(fēng)險(xiǎn)就難以避免。


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